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產(chǎn)品詳細(xì)頁人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述:BRASS人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀是一款專門用于測(cè)量人工晶狀體表面曲率半徑的干涉儀,具有極大的實(shí)用性和高精度的特點(diǎn),可以按照用戶產(chǎn)品的實(shí)際外形定制夾具以達(dá)到大測(cè)量效率。
- 城 市 :上海市
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-07-17
- 訪 問 量:1044
產(chǎn)品介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀
由于在人工晶狀體生產(chǎn)過程中提供了可靠,準(zhǔn)確,快速和客觀的光學(xué)測(cè)量,Brass系列干涉儀已經(jīng)取得了*廣大用戶的*信任。Brass系列干涉儀能夠完成反射式幾何測(cè)量,同時(shí)可提供球面,環(huán)曲面,多焦點(diǎn),非球面和各種復(fù)雜曲面的可視化條紋圖,幫助您交給你控制加工質(zhì)量。
人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀特點(diǎn):
高精度、友好的用戶界面,簡(jiǎn)潔的操作,專注于人工晶狀體鏡片工業(yè),堅(jiān)固耐用的剪切干涉儀
曲率半徑測(cè)量---前面和后表面
柱鏡和軸線測(cè)量
多焦點(diǎn)測(cè)量
非球面參數(shù):e值,K值和SF值
表面質(zhì)量 / 均勻度
選配:
軟件和硬件可定制
可配合自動(dòng)化控制
技術(shù)規(guī)格:
測(cè)量精度:+/- 5 um
測(cè)量分辨率:0.5 um
重復(fù)精度:優(yōu)于2 um
尺寸:510*260*410mm(L*W*H)
重量:25Kg
操作系統(tǒng):Windows XP/7 (32_64)/8.1/10
電源:110/220V AC 50、60Hz
測(cè)量時(shí)間:6秒(球面)