產(chǎn)品介紹

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)（超聲法）整個(gè)測量腔體包含一個(gè)塑料水槽和鏡片支座，鏡片支座的直徑為已知，超聲探頭從鏡片支座下方穿入，對(duì)準(zhǔn)鏡片內(nèi)表面，其發(fā)出聚焦型聲波的焦點(diǎn)位于支架中心。鏡片支座上覆蓋有一層厚度非常小的塑料薄膜，塑料水槽內(nèi)注滿鹽溶液。只要將被測角膜接觸鏡凹面朝下放到支座上，塑料薄膜就成為矢高的基準(zhǔn)位置。

測量時(shí)，超聲探頭產(chǎn)生一個(gè)穿透鹽溶液的銳聚焦超聲波能量短脈沖，這個(gè)脈沖的部分能量將從塑料薄膜，鏡片的內(nèi)表面、鏡片外表面，和鹽溶液表面反射回探頭。此時(shí)測厚儀就會(huì)記錄下整個(gè)回波，然后非常精確的測量*次回波和第二次回波間隔時(shí)間，以及第二次回波和第三次回波之間時(shí)間間隔。（第四次回波對(duì)應(yīng)的是鹽溶液表面的反射，此處忽略。）

*次回波和第二次回波之間的時(shí)間間隔與塑料薄膜和鏡片內(nèi)表面之間的距離（即矢高）成正比的，第二次回波和第三次回波之間的時(shí)間間隔對(duì)應(yīng)的就是鏡片的厚度。可以通過公式計(jì)算出鏡片的矢高和厚度。

而基弧的曲率半徑則可以由公式計(jì)算得到。

此處即可得到1-矢高，2-中心厚度，R-基弧曲率半徑

校準(zhǔn)：

任何超聲測量設(shè)備的精度都取決于校準(zhǔn)。對(duì)于角膜接觸鏡的測量，其精度取決于聲波在鹽溶液中的傳輸速度和特定的鏡片材料。請(qǐng)注意鹽溶液中的聲波速度會(huì)隨著溫度和濃度而顯著變化，且鏡片中的聲波速度也會(huì)受溫度和鏡片成份的影響。

建議的校準(zhǔn)方法是在恒溫下測量一個(gè)已知基弧和中心厚度的樣品，然后校準(zhǔn)超聲測厚儀的聲波。在校準(zhǔn)良好的情況下，矢高和中心厚度的誤差范圍可以控制在+/- 0.01 mm。

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)（超聲法）產(chǎn)品構(gòu)成

* 穿透性高精度多層超聲測厚儀

* 微型水浸式聚焦探頭和連接器

* 多層測量軟件（不含PC）

* 測量腔：含亞克力測量室和鏡片支座

* 夾具系統(tǒng)：含可上下調(diào)節(jié)的定位裝置及四個(gè)夾具

* 夾具包含：通用型傾斜夾具（黑色+白色），快速夾具（黑色+白色）

隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)（超聲法）主要技術(shù)參數(shù)

* 厚度測量范圍：0.08~635mm（根據(jù)材料和探頭配置而定）

* 材料聲速范圍：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

* 分辨率：低分辨率0.1mm，標(biāo)準(zhǔn)分辨率0.01mm，高分辨率（可選）0.001mm

* 探頭頻率范圍：標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）

* 檢波：全波、RF波、正半波、負(fù)半波

* 測量層數(shù)：4層（多層軟件選項(xiàng)）

* 具有差分模式和縮減率模式

* 時(shí)基B掃描模式，每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)

* 帶有數(shù)字式過濾器的高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)

* 輸出接口：MicroSD，USB，RS232，VGA

* 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄：475000個(gè)厚度測量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形

* 防護(hù)性能：IP67

* 電源：AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。

* 夾具高度可調(diào)范圍：0~15mm

* 快速夾具孔徑：15mm臺(tái)階孔